기초과학지원연구원이 그 동안

수입에 의존해 온 질량 분석 장비

'기체 클러스터 이온빔 장치'를

국산화하는 데 성공했다고 밝혔습니다.



이 장비는 시료에 이온빔을 쏴 화학적

조성을 파악하는 것으로, 표면 가공 정밀도가 분당 10억 분의 5미터로 수입산과 비슷한

수준으로 나타났습니다.